近日，基于美國國度儀器(National Instruments，以下簡稱“NI”) 的PXI源丈量單位 (SMU)，專注應用人工智能驅動半導體測試丈量的北京博達微科技無限公司 (簡稱“博達微”) 宣告推出最新基于機械進修的半導體參數化測試產物FS-Pro，真正將IV測試、CV測試、低頻噪聲 (1/f noise) 測試等經常使用低頻特征丈量集成于一體，完成在單臺儀器內完成一切測試的需求，并將測試速度晉升10倍，在低頻噪聲測試中將本來須要幾十秒的測試時光延長至5秒之內。

現現在，因為IoT成長迅猛，芯片量呈幾何倍數增加，摩爾定律已逐步不再實用，正如早先宣布的《NI Trend Watch 2018》引見，雖然摩爾定律的實用性再次遭到威逼，但以機械進修、主動駕駛為首的市場需求將連續擴大處置才能和I/O帶寬，為推進架構立異供給新的機會。是以，為打破傳統儀器固有的局限而生，加倍面向將來的智能測試計劃同樣成為半導體測試家當精進確當務之急，而NI恰是經由過程本身模塊化硬件的靈巧性，連續助力家當進階。NI亞太區副總裁ChandranNair表現：“我們關于博達微科技應用 NI 最新 SMU 開辟出的智能參數測試計劃 FS-Pro 印象深入，透過博達微科技與 NI 硬件所到達優良的準確性與測試速度信任異常合適運用于參數研討與量產測試上。”

集成高精度+高速+高通道數的NI SMU，助力AI算法企業成為半導體測試新權勢

現實上，這曾經不是NI和博達微的第一次協作，2017歲首年月博達微就宣布了基于機械進修的第一代半導體參數化測試產物FS系列，基于NI模塊化的硬件，在測試精度和敏銳度上做了兩個數目級的晉升。博達微CEO李嚴峰在NIDays2017現場也婉言，“從一個一年多前和測試‘絕緣’的軟件和算法公司，到以后產出的市場反應度很不錯的參數化測試裝備，個中許多都源于NI模塊化硬件平臺的靈巧性，便利我們疾速安排算法，疾速安排專家經歷到測試體系中。” 博達微在半導體參數測試頂用到的NI硬件平臺恰是其SMU。

以高達10fA的電流敏銳度履行高精度丈量，在高測試速度下兼具的低噪聲丈量機能，和賡續沖破的通道數，都是NI SMU在主動化測試和試驗室特征剖析范疇獲得普遍運用的緣由。另外，NI SMU玲瓏的構成構造和模塊化特征使其成為并行IV測試體系主要儀器，模塊化PXI平臺更可以或許贊助客戶經由過程PXI背板觸發SMU，以同步與其他儀器的丈量，包含高速數字I/O儀器、射頻剖析儀、產生器、高速數字化儀。

圖1. NI 推出全新24通道高密度、高精度SMU——PXIe-4163

基于NI模塊化硬件讓AI運用周全化，加快半導體參數測試是其一

應用機械取代人類完成認知、剖析、決議計劃等功效的AI，正在經由過程盤算力、算法、數據量與運用場景等重要驅動動力加快迸發，而AI家當的贏家勢必是那些可以或許疾速處理實體經濟成績、晉升行業效力，乃至是推翻傳統貿易形式的公司。

基于以靈巧著稱的NI模塊化硬件，博達微算法團隊將本身十年來應用算法處置集成電路工藝浮動仿真困難積聚的“行動猜測”、“噪聲去除”等一系列技巧算法原型，敏捷“復制”到半導體測試范疇，使丈量沖破原有物理界限成為能夠，其參數化儀器一經推出就敏捷取得市場承認。而應用人工智能（AI）驅動測試的貿易價值就是更快，據悉博達微曾經可以到達最多至10倍的效力晉升；更穩固，經由過程行動預知削減誤操作和不須要的旌旗燈號；更智能，經由過程機械進修的智能安排讓測試儀用具備越測越快的機能晉升。“FS-Pro是業界初次把IV，CV和噪聲測試集成到單臺裝備中，無需換線客戶便可完成簡直全體低頻參數化表征，并將測試速度晉升10倍。同時，基于NI供給的模塊化架構，用戶可以靈巧擴大，從四通道到近百個通道，” 李嚴峰強調道。

圖2. 基于NI SMU，博達微推出業界首個進修算法驅動的高精度半導體參數一體化測試體系FS-Pro

從連續推出更高通道數的SMU，在統籌半導體測試機能的同時連續贊助客戶下降測試本錢和時光便可以看出NI在半導體測試范疇的長線投入。Chandran Nair強調：“NI將來在技巧與市場方面將會自始自終的年夜力支撐博達微，連續為半導體范疇的客戶供給更疾速、更穩固、更智能的參數化測試計劃。”